Shimadzu Corporation

Tracera (GC-BID) Gaz Kromatografi Sistemi

Yeni Tracera GC Sistemi iz analiz gereksinimlerinizi çözecek. GC-2010 Plus kapiler gaz kromatograf ile yeni Barrier Discharge Ionization Detector (BID) teknolojisini birleştiren Tracera, başka GC dedektörleri ile tespiti zor olan iz bileşiklerin tespitini mümkün kılan bir GC sistemi olarak tasarlandı.

  • Plazma tabanlı BID (Barrier Discharhe Ionization detector) teknolojisi ile iz bileşiklerin analizi
  • Yüksek hassasiyet (TCD’nin 100, FID’nin 2 katı)
  • 1 pg C/sn dedeksiyon limiti

BID teknolojisi kullanılarak gerçekleştirilen uygulamalardan bazıları:

  • Yapay Fotosentez Araştırmalarında ortaya çıkan Reaksiyon Ürünlerinin Analizi
  • Etilende İmpürite Analizi
  • Lityum İyon Pil Gazının Analizi


İz Bileşik Analizleri için Plazma Teknolojisi



Barrier discharge ionization dedektörü (BID), Helyum bazlı, dielektrik bariyer plazamadan iyonizasyon oluşturan son derece hassas bir araçtır. 17.7eV'lik plazma, göreceli olarak düşük bir sıcaklıkta, kuartz dielektrik hazneye yüksek voltaj uygulanarak oluşturulmaktadır. 

GC kolonundan elüe olan bileşikler bu He plazma enerjisi ile iyonize olmakta, sonrasında da toplama elektrodu tarafından tespit edilerek pikler şeklinde proses edilmektedir. 

BID Osaka Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Atomik ve Moleküler Teknolojiler Merkezi'nden Dr. Katsuhisa Kitano ile işbirliği halinde yürütülen çalışmaların sonucunda geliştirilmiştir ve 3 U.S. patent ve 4 patent başvurusu olan bir teknolojidir. 


Dedekte Edilebilen Bileşiklerin Karşılaştırması

  Dedektör Tipi

  Dedekte Edilebilen Bileşikler

  Barrier discharge ionization dedektör (BID)

  Tümü (He ve Ne hariç)

  Termal iletkenlik dedektörü (TCD)

  Tümü (taşıyıcı gaz hariç)

  Alev iyonizasyon dedektörü (FID)

  Organik bileşikler (formaldehit ve formik asit hariç)

 

  • Gıda ve  Çevre Analizleri Hakkında - Shimadzu Journal Cilt 1 Sayı 1

    Food Safety and Environmental Analysis: This issue focuses on food safety and environmental analysis, and contains information on two collaborations including an interview with Professor Mondello, working on Comprehensive GC x GC / LC technology and a technical note on multi-residue analysis of pesticides in food, a collaborative work with the Food and Environment Research Agency, UK. As well as the latest news and applications.

Bana Sistem Öner

Bana Kolon Öner