Shimadzu Kratos AXIS Supra, eşsiz otomasyon ve kullanım kolaylığı ile malzeme tanımlanması için kullanılan X-ışını fotoelektron spektrometresi (XPS) 'dir.
Patentli AXIS teknolojisi ile spektroskopi modunda yüksek elektron toplama verimliliği ve paralel görüntüleme modunda yüksek büyütme oranlarında düşük sapmaları sağlar. XPS spektroskopisi ve görüntüleme sonuçları, Ultraviyole Fotoemisyon Spektroskopisi (UPS), Schottky alan emisyon taraması Auger Mikroskobu (SAM), İkincil Elektron Mikroskobu (SEM) ve İyon Saçılma Spektroskopisi (ISS) gibi ek yüzey analiz teknikleri ile tamamlanabilir.