HS-10

Neredeyse tüm numune matrislerinden otomatik olarak uçucu bileşikleri doğrudan GC’ye tanıtmanızı sağlamaktadır. 20 vial kapasiteli tepsisiyle düşük iş hacmiyle çalışan akademik kurumlar ve laboratuvarlar için idealdir. Elektronik akış kontrollü (AFC ve APC) ve termostatik vial haznesi standart sıcaklık dağılımlı olduğundan oldukça yüksek tekrarlanabilirliğe sahiptir.

















Overlap Analiz imkanı ile GC analizi sırasında sonraki viali alır ve ısıtıcı bloğuna yerleştirir. Isıtıcı blokta vial belirli sürede inkübe edilebilir. Bir önceki analiz döngüsü bittiğinde enjeksiyona hazır haldedir böylece analiz süresi kısaltılmaktadır.

Viallar yukarı- aşağı olacak şekilde çalkalanabilmektedir. Bu özellik, her numunenin head space konsantrasyonunun çok daha hızlı dengeye gelmesini sağlar ve zamandar tasarrufu arttırır.

HS-20

HS-20 serisi uçucu bileşik analizleri için en iyi çözümdür.  Üstün performansı, kullanıcı dostu tasarımı ve 90 vial kapasiteli tepsisi ile araştırmadan kalite kontrole kadar tüm analizleri destekler. HS-20 numune tepsisi tezgahtan 20 cm yüksektir, böylece sürekli olarak vialler görülebilmekte ve numune yerleştirilmesini kolaylaştırmaktadır. 10 ml ve 20 ml’lik vialler hiçbir aksesuar gerektirmeden tepsiye yerleştirilebilir ve simultane olarak analiz edilebilir.

Yüksek tekrarlanabilirlikli ve düşük carry-over değerine sahip olması güvenilir kantitatif sonuçlar verilmesini sağlar. Ayrıca, maksimum 300°C sıcaklığa çıkabilen fırını ile yüksek kaynama noktalı bileşiklerin analizlerini de yapmak mümkündür.

Loop tip, trap tip ve long-transfer line olmak üzere çeşitli opsiyonları bulunmaktadır. Opsiyonel barkod okuyucu numunelerin kromatografik data sistemi tarafından kontrol edilmesine imkan verir.

Yüksek Tekrarlanabilirlik

HS-20 yüksek tekrarlanabilirliğe hem pnömatik akış kontrolü (Advance Flow Control: AFC) tarafından sağlanan yüksek-doğruluklu akış hızı kontrolü ile hem de numune vialini fırına aşağıdan yukarı doğru alan mekanizma ile ulaşmaktadır.
Sonuç olarak, bu sistem ısı kaybını minimize eder ve overlap analizleri sırasında yüksek termak stabilite sağlar.
 

Düşük Carry Over

Numune yolunu inert ve mümkün olduğunca kısa tutmak carry-over riskini minimuma indirmektedir. Asetiik asit ya da diğer polar bileşiklerin analizlerinde bile hiç kalıntı olmamakta ve güvenilir sonuçlar elde edilmektedir. (Patent bekleniyor)