Shimadzu Corporation

SPM-9700HT Atomik Kuvvet Mikroskobu / SPM - Taramalı Probe Mikroskobu

Taramalı Prob Mikroskobu (SPM) numune yüzeyi üzerine çok küçük dirsekli kriş (kantilever) yerleştirildikten sonra ikisi arasındaki atomik kuvveti ölçerek numune yüzeyinin en ince ayrıntılarını görüntüleyen bir sistemdir. Numunenin kaplanmasına gerek duymadan metaller, yarı iletkenler, seramikler, organik maddeler, çok yüksek moleküler ağırlıklı polimerler ve biyolojik numunelerin yüzey özellikleri milyon katına büyütülerek incelenir.

Yeni geliştirilen HT tarayıcı sayesinde standart modellere göre 5 kattan daha hızlı data toplama imkanı vardır. Opsiyonel aksesuarlar ve seçilebilir ölçüm modları ile numune özelliğinden etkilenmeden (sertlik, elekriksel iletkenlik gibi) çok çeşitli örnekler için güvenilir ölçümler sağlar. SPM-9700HT yazılımı ve otomatik fonksiyonları ile kullanımı çok kolay bir sistemdir. Patentli oynar başlık mekanizması ile 24mm x 8 mm çaplı numuneler başlık yüzeyine çok daha kolay yerleştirilerek çalışma sağlanır.

  • Ölçüm Modları: Kontakt Mod, Dinamik Mod, Faz, Lateral Kuvvet (LFM), Kuvvet Modülasyon Modu (Standart), Magnetik Kuvvet Modu (MFM), Yüzey Potensiyel Modu (KFM) (Opsiyonel)
  • Yüksek Verimli Tarayıcı ile Yüksek Hızlı Data Toplama İmkanı
  • Head-Slide Mekanizması ile yüksek stabilite
  • WET-Type Çevre Kontrollü Taramalı Prob Mikroskobu(Opsiyonel)
  • Parçacık Analiz Yazılımı(Opsiyonel)

Bana Sistem Öner

Bana Kolon Öner